电性参数测试可以节省大量的生产成本：它减少了维修，尤其是在没有全面性功能测试的情况下，可锁定功能测试无法检测到的缺陷，使生产技术人员能够自主筛选出不良品以保证产品质量。Seica 解决方案：Compact Line和Pilot Line.

50微米超小测试点进行飞针测试

飞针的特点是灵活。 但常常该解决方案也面临定制化的要求。 用于芯片测试的 ATE 使用所谓的“晶元接口”（即探针卡）来接触晶元在封装前对芯片进行测试。 这些探针卡的测试往往需要需要接触典型尺寸为 50 微米的测试点。 对这些测试点测试来保证探针卡正反面的导通连接性。

由于其定位精度和在电路板两侧的并行测试，PILOT V8 NEXT>系列秩序最少定制即可达到最佳解决方案。

实现

· 通过将可用的探头减少到2个来定制 Pilot V8 测试系统

· 这2个测试头将配置高精度电机和超软针来适用于PCB测试

· 安装高分辨率相机以正确显示超小测试点

优点

·探针卡自动化测试

· 安全且可重复的放板方式

· 可对探针卡上的元器件进行MDA测试

LED板的ICT和功能测试

近年来，由于在相关技术上的创新，LED 已成为广泛使用的元件，不仅作为指示灯，也可以用作真正的光源。 电子制造领域持续的进行着优化贴装和测试的工艺，因为有大量与工艺和测试相关的相关问题需要解决。 在这方面，在汽车行业具有挑战性的需求驱动下，Seica测试设备集成了特殊LED测试传感器的方案，能够测试覆盖各种LED参数，并保证LED按规范运行。

实现：

· Compact SL测试设备和FEASA LED测试模块之间的软件集成

· 安装具有LED灯板电路测试以及每个 LED 单独光纤专用夹具

· 测试流程：D.U.T.ICT初步测试，D.U.T. 上电，带有 LED 上电后的功能测试，通过传感器采样分析LED特性。

优点:

 在复杂参数要求情况下亦能保证客观的产品质量

·无需操作员

·不良产品维修时能快速定位不合格元件