Seica不断追求创新，将参加2024年欧洲电子展和欧洲半导体展。

Seica 将在 2024年欧洲电子展（展位号：A3-459）和欧洲半导体展（展位号：C2-160）上展示其最新创新成果，推出先进的测试平台，能够缩短产品上市时间，提高电子和半导体行业的生产效率。

了解更多2024年欧洲电子展所展出的测试解决方案，请点击：www.seica.com/seica-is-waiting-for-you-at-electronica-2024/

- Pilot VX 飞针： 该系统采用先进的机械设计，可将测试时间最多缩短 50%。它配备了12个多功能测试头，支持同时对多达44个点进行双面探测。FlyPod和FlyStrain™等独特功能进一步提高了测试的灵活性和速度，是产品开发各个阶段的理想之选。

- Compact SL：这一高配置平台可进行在线测试、功能测试和在板编程（OBP）。新的ATE BOOSTER模块最大限度地提高了LED测试和在板编程效率，同时最大限度地降低硬件成本。

- MINI 80：用于开发定制测试基准的小型高性价比解决方案，集成了各种仪器和编程选项。

- VIVA NEXT平台： 可与制造系统无缝集成，实现数据采集、MES互动和与工业5.0兼容，可实时优化且可追溯。

- Canavisia智能工具： 亮点包括 DeviceClip（用于半导体的通用系统内编程工具）和LedMeter（用于精确的LED测试）--了解更多信息请点击：www.canavisia.com/en/canavisia-is-waiting-for-you-at-electronica-2024/

聚焦2024年欧洲半导体展 - 了解更多信息请点击： www.seica.com/seica-is-waiting-for-you-at-semicon-2024/

- Pilot VX HR XL：该系统专为探针卡测试而设计，可处理大型电路板（最大810 x 675毫米）和厚印刷电路板，确保精确、高速的测试。它集成了基于DSP的实时测量并能自动生成测试程序，为半导体应用提供了极高的精确度。

Seica推出的解决方案以非凡的速度、灵活性和集成性推动着未来测试的发展。

欢迎莅临Electronica展览会A3-459号展位和欧洲半导体展C2-160号展位，了解我们的创新测试解决方案，助您加速发展！