OPERA是Seica的全新一代测试解决方案，专为应对当下电子制造日趋复杂的挑战而研发设计。

OPERA意为Open Era（开放时代），体现出Seica一贯的开放理念，实现灵活、定制与创新。这一理念最早在1992年随VIP™平台落地，该平台融合核心软硬件架构与模块化组件，打造出可扩展的测试解决方案。

OPERA这一代系统可支持原型开发、新品导入、量产、售后维修与设备维保全产品生命周期，并可灵活配置实现在线测试、功能测试、边界扫描、LED 检测、电容测试、在板编程等各类测试需求。依托开放式架构，系统还能全面接入外部仪器，同时兼容各类第三方软件。

OPERA系列覆盖了Seica针对电路板与模块的全品类测试解决方案，可应对常规品类到电动汽车电子、电池、探针卡和功率器件等测试。

飞针测试

依托30多年的飞针技术积淀，Seica的Rapid与Pilot系统在各类生产场景中均具备一流的性能与灵活性。方案支持多元测试方法，可从容应对搭载嵌入式元器件的新一代电路板，以及集成度高、需复合测试技术的复杂电路板。

ICT与功能测试

Compact、Valid两大平台，现已全面接入OPERA系列架构，为单机及自动化产线提供可扩展的测试解决方案。

Compact系列基于精益制造理念设计，配置灵活、占地空间小且能耗低，是高产能生产场景的理想之选。

VALID系列可配置针床或固定接口，以实现高性能ICT与功能测试。全新VALID LR、VALID SL系统采用无线缆架构，搭载新一代128通道卡，支持全套测试方法。

VALID SL专为全自动化、大批量生产设计，配置通道数可超过 4,400 个。

VALID LR不仅支持从旧系统无缝迁移，还能支持新一代测试项目的开发，其灵活的多资源架构最多可支持5,888个通道。

VIVA™ 软件平台驱动

Seica最新发布的VIVA™ 软件平台为测试开发、验证、优化、可追溯性、MES集成和维修管理提供一体化环境。

平台集成自动调试、统计分析、自定义报告与操作员界面，同时支持Python、Excel、C、C++、C# 和TestStand ，实现互联互通、数据驱动型制造。

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