Seica推出两款专为高功率半导体测试设计的创新解决方案。

S20系列可为高度严苛的应用场景提供顶尖的测试性能和可靠性测试保障。

Seica依托在探针卡测试领域积累的深厚技术经验，结合Pilot VX XL HR等高性能平台，Seica现推出两款先进系统，专门适配功率半导体验证领域持续迭代的测试需求。

S20 IS³ — 分立功率器件的高精度测试

S20 IS³系统为测试分立功率器件（包括碳化硅和氮化镓技术）提供了前沿解决方案。该系统专为交流和直流静态和动态测试而设计，它能够精确且可重复地表征电气参数，这对于确保IGBT、MOSFET和二极管等组件的可靠性和性能至关重要，使其成为研发、生产和质量控制中不可或缺的工具。

S20 RTH — 电源循环测试与热阻特性分析

S20 RTH测试台旨在提供精确的热阻（RTH）特性分析，并具有先进的电源和冷却管理功能。在所有半导体器件中，晶体管是迄今为止最重要的一类，几乎所有晶体管都是三引脚器件（MOSFET、BJT、IGBT），与二极管不同的是，它们有一个驱动部分，这使它们对功率处理与输入信号之间的相互作用等相关问题更加敏感。在现代电源设计中，人们越来越重视整个系统的电气效率和半导体器件的结温，这种测试评估了功率MOSFET器件在开关模式电源中使用时的热应力。通过这种计算并结合器件的物理特性，可以预测结内达到的温度，以及所需的允许余量或散热片，以确保系统在运行期间具有适当的热余量。这种方法非常重要，因为正确的计算可以更准确地评估系统寿命，并确保在安全工作区内工作。

S20 IS³与S20 RTH均通过业界通用标准进行通信，并传输所有测试测量值和分级数据。凭借 Seica 强大的软件能力，我们可与最终用户协作，满足任何特殊需求。

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