数字元件不断创新升级，市场亟需性能超越传统逻辑分析仪的高阶数字设备。工业制造对硬件处理能力提出更高要求：加快测试速度。与此同时，基于可变电压电平以及单端或差分信号的新型逻辑器件系列，使测试变得日益复杂。

针对这一持续增长的测试需求，Seica推出了Compact DIGITAL测试系统（DTS），该系统支持通过矢量技术及边界扫描（Boundary Scan）等专用协议对集成器件进行测试，同时支持与ICT在线测试相结合。

ATE资源——ICT和功能测试

如同Seica其他解决方案，Compact DTS测试系统搭载VIP 平台，其主要特点在于能够实现技术与易用性的高度融合，为用户提供ICT在线测试和功能测试所需的各类功能，且用户无需具备专业知识。

这得益于基于ACL专有模块的尖端测量系统以及VIVA管理软件。前者基于DSP技术实现，整合所有测试功能，同时支持全自动测试执行。此外，通过光纤电缆与主PC进行通信，最大限度地降低了对外部干扰的敏感度。后者采用简单易用的设计逻辑，在系统管理和测试程序执行方面提供了操作自主性。借助“快速测试”模块——一款专门用于在较短时间内编译和运行功能测试的图形化软件——操作员无需了解内部架构或特定编程语言，即可正确配置任何系统资源。

最高支持25MHz的数字测试

除了ACL模块在每个测试点（TP）上已配备4个数字通道这一特点外，随着时间的推移Seica还不断开发和改进其数字测试硬件，最终实现了与F50模块集成相同的性能和功能。

这是一块拥有32个数字通道的板卡，模式速率最高可达25MHz。它包含数字驱动器和传感器（信号电压编程范围最高达12V，并配备专用板载256Kb存储器），以及4个脉冲发生器（每8个通道配备1个），这些脉冲发生器也可在无时钟运行模式下工作，使其能够与数字模式保持同步或异步运行。结合4个独立的频率、周期或脉冲计数器，以及用于2线制模拟测试的资源，F50成为了一款最先进的解决方案。

编程软件

依托Seica在电子三十余年电子测试领域的经验，VIVA软件具备一系列丰富的选项和功能，兼具高度灵活性与易用性。软件支持ICT测试与功能测试相结合，通过功能图形化环境引导用户完成测试程序的创建和执行步骤，从而提高流程速度并扩大故障检测覆盖率。针对数字测试开发，系统配备专用NVL（中立VIVA 语言）环境，支持校验、调试和执行程序。该环境能够同时处理和集成模拟、数字功能以及“管理”指令，从而实现完整的功能测试。

针对存储器烧录（例如 I2C、SPI 协议）场景，NVL可便捷导入并直接调用标准Intel/Motorola (.bin、.mot、.hex) 编程文件。平台内置波形采集图形化工具，可通过外部探针或设备内部通道获取波形，进一步简化了数字功能测试中的故障修复工作。VIVA软件采用开放式架构，兼容其他编程语言（例如Python、VBS）以及第三方软件模块（EXE和.DLL）。

多种配置方案，实现更优系统部署

DTS测试机的数字模块可灵活配置，满足多样化需求、实现最优性能表现：

-借助F50板的直接数字通道连接。可用的系统资源均为数字形式。

-通过组合F50和S64板实现直接混合通道。使Compact DTS测试机的所有数字和模拟资源均可用于测试点。该方案为直接通道配置，可复用其他测试系统上已成熟使用的现有测试夹具。

- 数字通道复用。如需大量数字通道，Seica提供高性价比解决方案，对数字通道进行复用（最高可达1:8复用比），将DTS测试机打造成充分利用系统资源的全数字系统。

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